应在约定参考平面校准后，分别核验通带S21、端口反射及DC–2.6GHz中的可测阻带频点。验证≥60dB抑制需要足够的测量动态范围和泄漏控制；曲线落到仪表噪底不等于滤波器实际抑制值，普通VNA也不能从扫频直接测得DC点。
应在约定参考平面校准后，分别核验通带S21、端口反射及DC–2.6GHz中的可测阻带频点。验证≥60dB抑制需要足够的测量动态范围和泄漏控制；曲线落到仪表噪底不等于滤波器实际抑制值，普通VNA也不能从扫频直接测得DC点。
根据3.0–3.2GHz和3.2–18GHz两段插损要求安排扫频，并在分段端点与项目常用频点保留结果。3.2GHz点按≤1.0dB核验，可同时满足两段要求。端口匹配应按3.0–18GHz通带VSWR≤1.5:1另行测量，不用一条S21曲线替代全部验收。保留校准方式、线缆配置和仪表设置，便于后续复测比较。
当传输很低时，仪表噪底、线缆间串扰和外部泄漏可能决定曲线显示，而不是器件自身响应。应结合仪表能力选择源功率、中频带宽和平均设置，检查连接隔离并评估测量余量。若结果接近系统可分辨极限，应报告测量下限及不确定度，不把仪表显示的平坦底线宣称为精确的器件抑制曲线。
普通射频扫频不能把起始频率设置为真实DC。对于说明书的DC–2.6GHz条目，应将VNA可测部分与DC相关验证方法分别约定，DC电气行为需按适当方法确认；不能据此推断器件支持直流承载。验收报告应区分已测频点、未测区域和采用的方法，避免把频率标签当作测试记录。