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UWB产测中,怎样控制治具、反射与定位对ToF或AoA复测一致性的影响?

2026/10/5 · 知识库

简要回答

把DUT、测试天线及治具的几何关系、反射环境和校准配置固定为同一测试配方,再分别验证静置重复、重新装夹和跨工位复测。ToF延迟与AoA角度分别管理,不能仅凭屏蔽箱或单次连通结果保证测距、测角一致性。

详细回答

把DUT、测试天线及治具的几何关系、反射环境和校准配置固定为同一测试配方,再分别验证静置重复、重新装夹和跨工位复测。ToF延迟与AoA角度分别管理,不能仅凭屏蔽箱或单次连通结果保证测距、测角一致性。

先明确测量方法与几何基准

项目应先区分射频耦合筛查、ToF时序验证与AoA方向验证,确定使用OTA还是经约定接口的测量方法。记录DUT天线位置、阵列方向、极化、参考装置位置、线缆连接和通道映射;采用距离或角度参考时,还要定义测量基准与定位公差。把天线延迟、链路延迟或通道校准版本与程序绑定,区分校准数据与产品判定限值,避免为了让样机通过而随意调整补偿。

控制箱内结构与重复装夹

屏蔽箱用于控制外部环境,箱内金属治具、线缆和其他结构仍可能形成反射或改变天线附近条件。建议在方案验证阶段比较治具材料、支撑位置和走线方案,评估吸波材料的布置,选定后冻结结构。检查限位、定位面和压紧状态,避免装夹改变产品姿态;机械手与人工装载也应使用相同基准。更换治具、移动测试天线或调整箱内器件后,应重新核查参考件,不把结构变化当作普通换料忽略。

按三层复测制定验收

先在不移动样机的条件下检查仪表与算法波动,再反复取放同一样机检查定位影响,最后在相同配置下比较工位差异。记录均值、波动范围、失败情况及环境条件,样本量和限值由产品规格及项目计划约定。若近场耦合读数用于一致性筛查,应另行验证它与目标距离或角度结果的关联。钱唐UWB测试提供屏蔽环境与自动夹具的方案基础;ToF、AoA测量配置及复测指标需按芯片、仪表和技术协议确认。

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