先保留原始失败记录，再在相同制式、通道、姿态和仪表设置下交叉测试参考样机与失败样机。异常跟随样机、工位或射频路径的表现可缩小范围；确认线损、定位和仪表状态后，再判断是否属于DUT故障。
先保留原始失败记录，再在相同制式、通道、姿态和仪表设置下交叉测试参考样机与失败样机。异常跟随样机、工位或射频路径的表现可缩小范围；确认线损、定位和仪表状态后，再判断是否属于DUT故障。
EVM关注调制信号质量，灵敏度关注约定接收条件下的性能，两类失败不能只用一个发射功率值解释。先记录DUT序列号、硬件与固件版本、频段、信道、带宽、天线通道、测试模式及原始结果，同时保存仪表电平设置、参考时钟配置、线损表和程序版本。保持电池或供电状态一致，确认DUT已进入要求的测试状态。不要一边重放样机一边修改补偿或放宽限值，否则通过结果难以用于定位。
先让受控参考样机走同一完整流程，再把失败样机放到已核查的工位。若多台参考件在同一路径同时偏移，应检查连接器松动、线缆损伤、开关通道映射、探头位置和屏蔽门状态；若异常主要跟随样机，再检查天线装配、接触及软件状态。对EVM还需核对分析带宽、同步和仪表输入电平，排除过载或信号过弱；对灵敏度需核查DUT端实际输入电平及接收判定规则。每次只改变一个因素，保存更改前后的对照结果。
建议以参考件重复测试和拆装后的复测验证工位稳定性，明确点检失败时的停测、排查与恢复条件，并分别记录首次结果和后续复测结果。异常跟随某一因素只是诊断线索，不宜单凭一次交叉测试认定根因。钱唐5G手机多天线一站式测试组合屏蔽箱、夹具和射频链路切换；上述诊断、日志及点检步骤需结合仪表和客户程序配置，不代表设备默认具备全部功能。