AT5016plus可按方案组织de-sense接收去敏感度测试，通过比较终端在基准状态与指定干扰或功能开启状态下的接收表现，定位性能下降。测量需固定频点、耦合路径、定位和判定方法，逐项控制干扰条件；实际可测试范围由仪表、软件与被测件控制能力决定。
AT5016plus可按方案组织de-sense接收去敏感度测试，通过比较终端在基准状态与指定干扰或功能开启状态下的接收表现，定位性能下降。测量需固定频点、耦合路径、定位和判定方法，逐项控制干扰条件；实际可测试范围由仪表、软件与被测件控制能力决定。
先确认被测件正常接收状态和目标判据，再指定需要考察的干扰来源，例如其他无线通路工作、显示或计算负载变化、接口传输等。建议每次只改变一个明确条件，保持供电、固件、温度、摆放和线缆配置一致，并记录功能状态是否实际生效。基准与干扰状态应采用相同的频点、路径补偿和门限搜索方法，否则读数差异可能来自工位变化。对多天线终端，应区分各接收通路，不宜只用单一路径结果代表全部天线或所有使用场景。
发现接收表现下降后，可重复基准状态确认工位未漂移，再分步关闭或调整可疑功能，观察变化是否稳定复现。将结果与扫描路径、日志和样机状态对应，有助于区分样品定位、耦合变化及终端自身干扰。屏蔽箱能够减少外界信号带来的影响，但并不能消除被测件内部干扰，也不能自动给出干扰源结论。询价时应列出接收制式、频点、干扰状态、目标判据及控制方式，确认仪表资源与软件流程；判定门限和可覆盖的状态清单应在技术方案中逐项约定。
查看AT5016plus平面扫描式耦合箱，或提交样机与测试项目确认方案。
外部来源用于解释通用测试方法。AT5016plus配置与验收值以钱唐科技确认的技术方案及相应报告为准。