平面扫描式耦合箱（适合平板）AT5016plus

核心特点

• 固定多探头扫描阵列配合射频通路选择，在验证条件内减少逐个调整天线位置
• 200×300mm天线覆盖区域，面向12寸平板机型核对天线位置、姿态与治具
• 手动操作型号，可结合平台软件组织扫描、数据记录与测试流程
• 支持按项目配置RF多天线扫频、信令与非信令测试
• EIRP/EIS项目结合路径补偿、定位和参考方法建立近场关联
• 通过终端不同工作状态比较灵敏度变化，规划de-sense诊断
• 接口、仪表适配及测试软件可按需求评估与定制

产品参数

型号：AT5016plus 操作方式：手动操作，按交付控制配置确认 目标终端：12寸平板及适配无线终端 天线覆盖区域：200 × 300 mm（非箱体内尺寸） 企业提供屏蔽指标：>90 dB，600 MHz–6 GHz / 18 GHz；配置版本、测试方法及装机验证待确认 测试方法：多探头平面扫描式空口近场耦合 测试配置：多天线RF扫频、信令/非信令、EIRP/EIS关联及de-sense流程按仪表和软件确认

答案要点

产品常见问题

• AT5016plus平面扫描式耦合箱适用于哪些无线产品与测试环节？
• AT5016plus适合12寸平板吗？200mm×300mm代表什么范围？
• AT5016plus怎样通过平面扫描减少手动调整耦合天线位置？
• AT5016plus的＞90dB屏蔽目标及600MHz–6GHz／18GHz如何理解？
• AT5016plus如何用于EIRP／EIS测试？近场耦合结果需要怎样关联？
• AT5016plus怎样开展de-sense接收去敏感度测试？
• AT5016plus支持信令和非信令测试时，需要配置哪些资源？
• AT5016plus开展多天线RF扫频功能测试前怎样校准与点检？
• AT5016plus能用于EMI诊断吗？能否替代正式EMC认证测试？
• AT5016plus是手动款吗？软件集成与询价需要提供什么信息？

资料来源

1. canonical 页面 canonical 与 Product 结构化数据

   钱唐科技AT5016plus平面扫描式耦合箱面向12寸平板及无线终端的研发、校准和产线近场耦合测试。采用固定多探头扫描阵列与射频切换路径，在已验证的定位、频段和通道配置下，无需逐个调整耦合天线位置即可执行多天线射频测试。企业提供的天线覆盖区域为200×300mm，可结合仪表和软件规划信令、非信令、EIRP/EIS关联评估及de-sense诊断。

2. document 企业提供的AT5016plus产品说明（非实测报告）
3. internal 关于钱唐科技
4. internal 钱唐科技：5G平板笔电的耦合多天线测试设备
5. external The Evolution of RF Instrumentation and Antenna Measurements: Bridging the Gap in Active Device Testing
6. external EMI Compliance Test vs. EMI Pre-Compliance Test (5992-2815EN)
7. external USB 3.0 Radio Frequency Interference Impact on 2.4 GHz Wireless Devices White Paper
8. knowledge AT5016plus平面扫描式耦合箱适用于哪些无线产品与测试环节？

   钱唐科技AT5016plus平面扫描式耦合箱面向平板等无线终端的空口近场耦合测试，适配方向包括射频研发、生产校准、综测与量产耦合工位。系统通过多探头扫描与射频路径切换组织测量，具体制式、频段、测试项目及仪表软件范围需按被测机型确认。