AT5016plus可围绕EIRP与EIS相关测试需求配置近场耦合流程，但仪表读数不能未经验证直接当作绝对空口指标。需要固定样品姿态、完成各路径补偿，并与约定的参考测量建立关联；近场扫描结果不等同于全空间TRP／TIS或认证测试结论。
AT5016plus可围绕EIRP与EIS相关测试需求配置近场耦合流程，但仪表读数不能未经验证直接当作绝对空口指标。需要固定样品姿态、完成各路径补偿，并与约定的参考测量建立关联；近场扫描结果不等同于全空间TRP／TIS或认证测试结论。
等效全向辐射功率与等效全向灵敏度对应约定方向或条件下的发射、接收性能。近场耦合路径受到探头与终端距离、极化、外壳和夹具的影响，不能只扣除同轴线缆损耗就完成指标换算。工程导入时，应明确参考测量方法、样机状态、工作频点、判定门限和关联适用范围，分别验证发射与接收路径。可选择具有稳定表现的参考样机建立配方，再用不同样品检查关联偏差与重复性。某一机型的补偿不能未经验证套用于结构不同的新机型。
产线可在已确认的关联条件下比较样品与参考表现，识别明显的天线通路或装配差异。记录中应保留原始读数、补偿版本、路径编号及样品工作状态，方便追溯异常。接收测量还需约定误码、吞吐或协议相关判据，避免混用不同定义的灵敏度门限。若项目要求全空间积分、特定标准或第三方认证，应另行配置对应测试环境并按要求执行。钱唐科技可依据测试目标确认耦合工位与软件范围，最终报告应清楚说明它是近场关联结果还是参考空口测量结果。
查看AT5016plus平面扫描式耦合箱，或提交样机与测试项目确认方案。
外部来源用于解释通用测试方法。AT5016plus配置与验收值以钱唐科技确认的技术方案及相应报告为准。