AT5016plus的扫描轨迹、驻留时间与采样点密度怎么设定？复现性和节拍怎么平衡

详细回答

AT5016plus 用固定多探头阵列配合扫描路径完成近场耦合测试，省掉了逐个调整耦合天线位置的人工动作。但“自动扫”不等于“随便扫”——轨迹、驻留、密度三个参数没定好，读数要么不稳，要么漏峰，要么把节拍拖垮。

轨迹怎么规划

• 以天线投影为准：扫描轨迹按被测机型各天线的投影位置规划，覆盖区域按 200×300mm 口径核算；边缘天线离轨迹边界太近时，峰值可能被截断，读数系统性偏低。
• 换机型要重审：新机型的天线布局变了，旧轨迹不一定适用——换型配方里轨迹是必审项（换型与新品导入的准备见新机型导入适配）。
• 与治具定位联动：轨迹的原点定义在治具定位基准上，定位件磨损或更换后要复核轨迹原点，否则整条轨迹平移。

驻留时间怎么定

• 覆盖稳定时间：被测终端发射状态建立、仪表量程与积分稳定都需要时间；驻留短于稳定时间，读数随“到达时刻”波动，表现为同一位置重复读数离散。
• 与仪表积分匹配：仪表的积分/平均设置决定最短可用驻留，二者要一起调——只加驻留不加积分，收益有限；多天线RF扫频的配置要点见多天线扫频校准。
• 离散度验证：金样机在同一位置连续读 10 次，离散度在允差内说明驻留够用；超差先加驻留，再谈别的原因。

采样密度怎么定

• 按漏峰风险取点：两个采样点之间的读数落差不要超过判定裕量的一半——密度不足的表现不是“读数不准”，而是“天线峰值没扫到”，判定整体偏松。
• 峰越窄越要密：天线方向图越窄、离箱壁越近的机型，峰值越尖锐，采样密度要相应加密；宽波束天线可以稀一些。
• 密度的代价：点数翻倍节拍基本同步翻倍，不要用“全部加密”解决偶发问题——先确认是漏峰还是别的漂移（节拍压力的处理见节拍估算与多台并联）。

定版与验证

• 参数定版：轨迹、驻留、密度验证通过后写进机型配方，随机型版本管理；现场不手改，改动走配方变更。
• 复现性抽核：日常点检用金样机跑一遍，与定版时的基线比对——离散度变大优先查定位与治具，均值漂移优先查链路与补偿（EIRP/EIS 关联评估时的口径见EIRP/EIS近场关联）。
• 别拿扫描参数掩盖问题：发现读数异常时，先按“定位—链路—被测机”顺序排查，不要上来就加密采样点“再看一次”——那只是把问题变贵。

资料来源

• 钱唐科技：平面扫描式耦合箱（适合平板）AT5016plus：多探头平面扫描式空口近场耦合；天线覆盖区域200×300mm（非箱体内尺寸）；多天线RF扫频、信令/非信令、EIRP/EIS关联及de-sense流程按仪表和软件确认。
• IEEE：IEEE 802.11 系列中天线与空口测量相关的公开技术背景；用于采样与稳定性说明，不移植任何条款数值。