AT5016plus以多探头扫描阵列和射频路径切换采样被测件附近的耦合响应，按配方选择合适路径，减少逐次移动单个耦合天线的操作。无需调整天线位置建立在机型定位、有效覆盖与路径校准已确认的基础上，换型或改变测试状态后仍需验证配方。
AT5016plus以多探头扫描阵列和射频路径切换采样被测件附近的耦合响应，按配方选择合适路径，减少逐次移动单个耦合天线的操作。无需调整天线位置建立在机型定位、有效覆盖与路径校准已确认的基础上，换型或改变测试状态后仍需验证配方。
传统工位若依赖单个探头反复找位置，不同操作人员的摆放差异会影响测量一致性。扫描方案把候选位置纳入阵列，通过软件组织路径选择和采样，并将适用路径记录为机型配方。实施时应明确扫描目的：寻找稳定耦合路径、比较不同通路，还是按固定次序完成多频点测试。不能把找到较强响应理解为已测得完整辐射图形，也不能在未验证时假定所有探头对每个制式均适用。实际通道数量、切换时间和扫描节拍应依据交付配置确认。
夹具应约束被测件的位置、方向与高度，线缆走向也应保持一致。首次导入机型时，建议保存扫描响应、参考样机结果、各路径补偿及判定门限，随后验证重复取放和不同样机间的适用性。更换外壳、天线版本或测试附件后，应评估旧配方是否仍有效，并保留版本变更记录。产线人员可以使用已验证配方执行测试，工程人员则负责点检与维护；这一分工有助于减少临时调节。减少移天线带来的时间收益需通过完整流程测量，不能由扫描原理直接推算产能。
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外部来源用于解释通用测试方法。AT5016plus配置与验收值以钱唐科技确认的技术方案及相应报告为准。