AT5016plus可按方案用于受控环境下的EMI问题排查和无线接收受扰比较，结合近场耦合观察频点、位置与工作状态差异。该用途需要相应仪表和测试方法，不能将产线耦合结果直接作为标准辐射发射、抗扰度或第三方EMC认证结论。
AT5016plus可按方案用于受控环境下的EMI问题排查和无线接收受扰比较，结合近场耦合观察频点、位置与工作状态差异。该用途需要相应仪表和测试方法，不能将产线耦合结果直接作为标准辐射发射、抗扰度或第三方EMC认证结论。
工程排查可以先记录基准状态，再改变某项功能或接口活动，比较频谱与接收表现的差异。应固定样品姿态、探头路径、仪表带宽、检波或采样设置以及线缆布置，使变化能够复现。近场响应可帮助缩小问题范围，但读数受耦合距离与位置影响，不能未经转换和验证就对应标准测量距离下的场强。外界隔离有助于观察终端自身现象，也需留意测试线缆和供电附件是否引入新的路径；必要时分别记录有线与无线状态。
正式测试应根据产品目标市场和适用标准，确认测量场地、天线距离、布置、接收机设置、校准与不确定度要求，并由符合要求的测试流程生成报告。产品具有较高屏蔽目标，也不能证明该箱体已符合任何认证场地要求。询价时应清楚区分故障定位、设计修改比较、产线筛查与合规评估，提供关注频段、异常现象及希望输出的数据类型。钱唐科技据此确认近场工位的配置范围；如需认证结果，应提前规划相应实验室测试，不应把内部诊断报告换名作为合规证明。
查看AT5016plus平面扫描式耦合箱，或提交样机与测试项目确认方案。
外部来源用于解释通用测试方法。AT5016plus配置与验收值以钱唐科技确认的技术方案及相应报告为准。