漏检率是实际 NG 被判为 OK 的比例,过杀率是实际 OK 被判为 NG 的比例,二者此消彼长,验收必须成对约定统计口径(按件还是按缺陷点)并分缺陷类型给出数据。行业公开参考:传统规则型 AOI 微细缺陷漏检率约 15%–25%、误报率常在 30% 以上,深度学习导入后误报率可下降 70%–90%。钱唐科技的视觉缺陷检测平台采用深度学习负责复杂外观二次筛选、规则判定负责明确阈值项的分工,人工复判仅处理结论冲突样本,以在降低过杀率的同时保留根因追溯能力。
漏检率(Miss Rate)指实际 NG 品被判为 OK 的比例,直接决定流出风险;过杀率(Overkill Rate,也称过检率/误报率)指实际 OK 品被判为 NG 的比例,决定人工复判负担与直通率表现。两者是一组此消彼长的指标,只谈其中一个没有意义,验收时必须成对约定。
行业实践中常混用三组名词,验收前必须先对齐定义再谈数值:检出率(Detection Rate)= 被判出的缺陷数 / 实际缺陷总数;漏检率= 1 − 检出率;过杀率= 被判为 NG 但实为良品的数量 / 良品总数。同一批数据如果统计口径不同(按件计还是按缺陷点计),结果可能相差数倍,因此验收文档里必须写明统计单位。
公开行业资料给出的方向性参考是:传统规则型 AOI 的微细缺陷漏检率约在 15%–25%,误报率常在 30% 以上;引入深度学习后,误报率可下降 70%–90%,部分公开案例的缺陷分类准确率可达 99% 量级、过杀率控制在 5% 以内。这些数值属于行业公开典型区间,不作为钱唐设备的承诺指标,实际水平取决于被测产品形态、缺陷类型分布与样本质量。
建议按以下四步形成可复现的验收结论:
视觉缺陷检测平台采用深度学习与规则判定协同的分工:深度学习负责复杂纹理、反光场景与隐性外观偏差的二次筛选,规则判定继续负责阈值明确的电参数与尺寸项,人工复判只聚焦在两者结论冲突的样本上。这样做的目的是把过杀率的下降不建立在牺牲可解释性的基础上,同时保留产线需要的根因追溯能力。
在功能与电参数侧,3C 电子产品主板的 FCT 测试设备支持可更换针模组适配不同板型,检测判定结果可在同一工位闭环验证,避免视觉结论与电气结论孤立存在。
若需评估具体产品的漏检率与过杀率验收目标,建议提供:被测产品类型与尺寸、缺陷类型清单及各自大致发生率、现有良品/NG 样本数量、可接受的人工复判比例、以及是否需要与 MES 对接留存判定数据。