FCT测试的供电电压与电流判定怎么设限？电压跌落、电流上限的依据从哪来？

详细回答

FCT 工位上电源类判定最容易出现两种事故：一批好板被“电流偏大”误杀，或者一块电源明显异常的板顺利流到下一站。根源多半不在设备，而在限值本身——电压下限、电流上下限是怎么定出来的。

限值依据的三级结构

• 理论底：电源树与芯片工作电压范围决定供电电压的理论边界——每个电源轨要满足末端芯片的最小工作电压，再叠加探针接触与线路上的压降。
• 实测分布：设计验证阶段的好坏板实测数据是主依据：正常板电流的散布范围决定上限的“地板”，异常板（短路、漏电、不启动）的表现决定判定的“刀口”位置。
• 试产定版：试产批的产线数据量最大、来源最真实，终版限值用它确认；分布与限值关系的整体方法见CPK 与 GRR 验证。

电流判定要分场景

• 浪涌与稳态分开：上电瞬间电容充电的浪涌电流是正常现象，判定窗口必须错开浪涌时段——常见的做法是上电后延时进入稳态窗口再判电流，窗口外不判。
• 下限卡异常：稳态电流下限防的是“没正常启动”（芯片没跑起来、电源未使能），它的散布远小于上限，但要考虑温度与批次的慢漂移。
• 上限卡故障：上限防短路、漏电与过载，按正常散布加裕量设定，别按“最坏板的电流”贴边设——贴边限值是误杀主力。

电压判定与欠压重启

• 下限有余量：供电电压下限取芯片最小工作电压加线路与接触压降的余量；探针接触压降随探针寿命上升，探针管理见弹簧探针寿命管理。
• 欠压按功能判：欠压重启保护该判的是功能表现——电压跌到阈值以下、系统应重启并恢复，用电流曲线去“猜”重启行为不如直接判功能信号。
• 跌落测试有限次：电源跌落与恢复的判定次数要限定并留痕，避免复测口径漂移；测试项的分层归属见ICT/FCT/整机测试分层。

上线前的区分度验证

• 好坏板各一批：限值写进程序前，用确认的好板与故障板各跑一批，看误杀率与漏检率——区分度不够就回头调刀口，而不是上线后边跑边调。
• 失败归因记录：电流判 FAIL 的板按“真异常/接触/限值贴边”分类统计，贴边误杀占比高说明限值要收口或窗口要调整；接触类假失败的排查见探针接触不良假失败。
• 变更走流程：换电源芯片、改电源树、换探针模组，任何一项变更都触发限值复验，复验动作见换型与针模组复验。

资料来源

• 钱唐科技：3C电子产品主板的FCT测试设备：SMT 后段功能测试与烧录，支持单板与连板，最小测试点间距 0.6mm，抽屉式结构，换型更换上下针模组；供电与电流判定项按主板测试规范确认。
• IEC：电子设备供电特性与功能测试判定的公开工程背景；用于限值设定方法说明，不移植任何条款数值。