UWB产线的金样机与参考Tag怎么管？基线建档、轮换核查与寿命管理

详细回答

UWB 产测要判的是被测机的 ToF 测距与 AoA 测角表现，而“表现好不好”必须有一个不变的参照——这就是金样机与参考Tag的作用。参考件管理松的产线有一个共同症状：读数漂了以后，谁也说不清是工位变了、配方变了，还是参考件自己老了。把参考件管起来，漂移才有裁判。

参考件分两级

• 金样机：用于配方基线建立、换型首件验证与定期点检——数量少、管得严，只在标准工位使用（换型与配方的整体口径见多机型混线配方管理）。
• 参考Tag：用于日常读数比对与快速背景核查——数量可以多几只，每只独立编号，读数记录与编号关联。
• 不混用：金样机不去做日常比对，参考Tag不进配方基线——两级的允差口径与使用频次不同，混用会把两套基线搅在一起。

基线怎么建档

• 到货建档：参考件到货先在标准工位测全套 ToF 与 AoA 数据，存为基线；基线与校准记录、线缆配置、软件版本一起绑定，四者任一变更后重测基线（校准与天线延迟记录的口径见校准、天线延迟与线损记录）。
• 条件固定：基线测试的治具位置、耦合姿态、环境条件写进建档记录——基线只在“同样的条件”下可比，条件变化等于换了一把尺子。
• 判定限值衔接：参考件基线与被测机判定限值的关系要写清，测距精度的产线验证与限值设定见ToF测距精度验证。

轮换与核查

• 固定周期：参考件按固定周期上机核查，读数与基线比对；周期按产线波动情况定，事件驱动（换线缆、搬迁、软件升级）核查比纯日历周期更抓得住突变。
• 偏差分流：核查偏差超允差时，先查工位环境与线缆（反射与定位对一致性的影响见治具、反射与定位复测一致性），环境排除后才把嫌疑落到参考件本身。
• 轮换留痕：每次核查的读数、环境状态与结论入档——参考件的可信度也是攒出来的，有记录才有“它还准不准”的判据。

寿命与下线

• 电池管理：参考Tag电量纳入点检，低电量会改变发射状态与读数稳定性——设定电量下限，低于即充电或更换，不让“快没电的Tag”上岗。
• 外壳磨损：外壳与定位面磨损会改变耦合姿态，AoA 类读数对此尤其敏感——磨损超标的参考件降级使用或下线。
• 异常即下线：经历过跌撞、进水或读数异常排查不出原因的参考件，立即下线不再复用——参考件的可信度不能靠“感觉还行”维持。

资料来源

• 钱唐科技：UWB测试：为UWB终端提供屏蔽测试环境与自动夹具，覆盖900MHz–13GHz、ToF与AoA测量场景；箱体不单独决定测距或测角精度，需按DUT、芯片方案与测量方法配置。
• FiRa Consortium：UWB 测距与测角应用及一致性评估的公开技术框架背景；用于参考件管理说明，不移植任何条款数值。